Projeto de Malha de Captura de Fase Autocalibrável

O impacto das variações de processo e desvios "intra-die" no fabrico de circuitos analógicos e de sinal misto (AMS), nomeadamente no rendimento do fabrico, em custos e confiança, tornaram-se críticos com a adoção de tecnologias MOS sub- micrométricas. Quando em operação, a sensibilidade dos circuitos a grandezas ambientais, como temperatura, tensão e interferências de outros blocos, gera novas fontes de variabilidade. Perante estes desvios, circuitos de alto desempenho requerem a integração de metodologias de calibração que facilitem a correção dos parâmetros de desempenho após fabrico e o ajuste dos mesmos quando em operação. Este circuito adicional pode representar uma pequena fração adicional da área total de circuito e da potência consumida, mas ainda assim pode resultar mais eficiente em área e energia do que qualquer sobredimensionamento analógico ou processo auxiliar puramente digital de detecção e correção.The impacts of process variations and intra-die device mismatches of analog and mixed-signal (AMS) circuits, namely regarding fabrication yield, costs, and reliability have become critical with the adoption of deep sub-micron MOS technologies. When in operation, circuits' sensitivity to environmental quantities, such as temperature, voltage, as well as interferences originating from other blocks, render new sources of variability. High performance circuits require the adoption of built-in calibration and test facilities which facilitate tuning performance parameters after fabrication and correcting them when in operation. This extra added circuitry may represent a small fraction of total circuit area and power, but still it may be more area- and power- efficient than either analog "overdesign" or purely digital detection and correction